电子产〖品在加工过程中，由于经历了复杂的加工和元器件物料的◣大量使用，将引入各种缺陷。无论是加工缺陷还是元器件∴缺陷，都可分为明显缺陷和潜在缺陷，明显缺陷指那些导√致产品不能正常工作的※缺陷，例如短路/断路。而潜在缺陷导致产◥品暂时可以使用，但在使■用中缺陷会很快暴露出来，产品不能正常工作，例如焊锡不足，产品虽然可以用，但轻微振动可能就会使焊点断路。明显缺陷可通过常规检验手段检查各个元器◎件加以发现。而潜在的缺陷不能用一般的测试手段发现，而需要在使用过程中逐渐地被暴露，如◤硅片表面污染、组织不稳定、焊接空洞、芯片和管壳热阻匹配不良等等。
潜在缺陷一般需要在元器件工作于额定功率和正常工作温度下运行一千个小时左右才能全会暴露出来。然而，对每个元器件测试一千个小时是不现实的，所以需要对其施加热应力和偏压，通过高温老化可以使元器件的缺陷、焊接、装配等在生产过程中存在的隐患提前暴露。高温老化测试需要在特定的温度环境下来试验，这就必须借助于高温烘ξ 箱，它可以模似不同的高温环境，只要根据产品不同的老化需求来选择合适温度的烤箱就可以了。
产品老化后还要进行电气参数测量，筛选剔除失效或变值的元器件，尽可能把产品的早期失效消灭在正常使用之前，从而保证出厂的产品能经得起时间的考验。
老化不单单能提前暴露潜在缺陷，还有一个更』重要的目的：通过老化使产品加工工艺不断改进，使元器件品∏质不断改进，改进到不需要老化为止。怡和兴电↙子老化烤箱由室体、加热系统、电气控制系统、送风系统、保护系统等组成。独立的超温保护装置，提高了产品的可靠性和安全性，特别适用于LED 、LCD、石英晶体、电容、电阻、电感等产品生产过程的老化和烘干。